產(chǎn)品規(guī)格及說(shuō)明 | |
---|---|
設(shè)備品牌:帝龍 | 設(shè)備型號(hào):EIT UVICURE Plus Ⅱ |
訂購(gòu)價(jià)格:電話/面議 | 交貨日期:3~30/工作日 |
產(chǎn)地:東莞 | 是否進(jìn)口:否 |
加工定制:否 | 外形尺寸:117*12 |
類型:手持式紫外輻照計(jì) | |
產(chǎn)品標(biāo)簽:能量測(cè)量?jī)x,燈管能量測(cè)量?jī)x,輻射測(cè)量計(jì),輻射度測(cè)量計(jì),燈管測(cè)量?jī)x | |
咨詢熱線:13715339029 | 售后服務(wù):13715339029 |
技術(shù)咨詢:13715339029 | ![]() |
其他答案1:
書(shū)名:核輻射探測(cè)器 [平裝]叢 書(shū): 國(guó)防特色教材·核科學(xué)與技術(shù)
作 者: 丁洪林
書(shū) 號(hào): 13715339029
出 版 社: 哈爾濱工程大學(xué)出版社,北京航空航天大學(xué)出版社,北京理工大學(xué)出版社,西北工業(yè)大學(xué)出版社,哈爾濱工業(yè)大學(xué)出版社
出版日期: 2010-4-1
定 價(jià): 68.0 元 《核輻射探測(cè)器》是編著者在幾十年半導(dǎo)體輻射探測(cè)器的研究開(kāi)發(fā)和給研究生講授核輻射探測(cè)器的基礎(chǔ)上編寫成的。《核輻射探測(cè)器》首先介紹了核輻射探測(cè)器的發(fā)展和近十幾年來(lái)的新進(jìn)展,介紹了輻射源、射線與物質(zhì)相互作用等基礎(chǔ)知識(shí);重點(diǎn)介紹了核輻射探測(cè)器的工作原理、工藝原理和工藝、探測(cè)器特性、結(jié)構(gòu)及其應(yīng)用;然后介紹了核輻射探測(cè)器在實(shí)驗(yàn)核物理、粒子物理、堆物理中的應(yīng)用,能量測(cè)量和在不同能量范圍如何正確選擇和使用核輻射探測(cè)器;以及在核輻射強(qiáng)度和輻射劑量測(cè)量中的應(yīng)用,陣列探測(cè)器構(gòu)成的核成像探測(cè)器及其應(yīng)用,脈沖輻射探測(cè)器和脈沖輻射的探測(cè),核輻射探測(cè)器在工業(yè)自動(dòng)化控制、核燃耗測(cè)量、核保障和對(duì)特殊核素監(jiān)控中的應(yīng)用,在x射線熒光分析、環(huán)保生態(tài)學(xué)中的應(yīng)用,在探測(cè)空間輻射、空間物理、天體物理研究中的應(yīng)用,以及在核廢物處理和核醫(yī)學(xué)中的應(yīng)用等。
《核輻射探測(cè)器》主要作為與核相關(guān)的研究生的教材,也可作為核物理和有關(guān)放射性測(cè)量等專業(yè)的學(xué)生學(xué)習(xí)和參考,也可供從事相關(guān)專業(yè)的科研、生產(chǎn)、應(yīng)用的工程技術(shù)人員閱讀。 第1章 緒論
1.1 核探測(cè)技術(shù)在核科學(xué)研究、核試驗(yàn)測(cè)試、核技術(shù)應(yīng)用中的作用與地位
1.2 核輻射探測(cè)器的發(fā)展及其應(yīng)用簡(jiǎn)介
第2章 核輻射和核輻射探測(cè)的原理和方法
2.1 核輻射的基本性質(zhì)
2.2 探測(cè)帶電粒子的物理基礎(chǔ)及常用的帶電粒子探測(cè)器
2.3 X,y射線的探測(cè)原理及常用的核輻射探測(cè)器
2.4 中子的探測(cè)方法
第3章 氣體探測(cè)器
3.1 氣體探測(cè)器的原理
3.2 電離室
3.3 電流電離室和累計(jì)電離室
3.4 正比計(jì)數(shù)管及其應(yīng)用
3.5 G-M計(jì)數(shù)管
3.6 氣體多絲正比室和漂移室
3.7 高氣壓電離室和高氣壓氙電離室
第4章 閃爍探測(cè)器
4.1 閃爍探測(cè)器的構(gòu)成和工作原理
4.2 閃爍體
4.3 閃爍體的特性參數(shù)
4.4 無(wú)機(jī)閃爍體的種類和它的物理參數(shù)
4.5 常用的有機(jī)閃爍體
4.6 閃爍體的選擇
4.7 光學(xué)收集系統(tǒng)
4.8 閃爍探測(cè)器的工作特性
4.9 閃爍探測(cè)器的坪特性
4.10 閃爍體探測(cè)器的應(yīng)用
第5章 半導(dǎo)體探測(cè)器
5.1 半導(dǎo)體的基礎(chǔ)知識(shí)
5.2 本征半導(dǎo)體
5.3 N型半導(dǎo)體和P型半導(dǎo)體
5.4 載流子
5.5 半導(dǎo)體探測(cè)器對(duì)半導(dǎo)體材料的要求和它的基本工作原理
5.6 用于制備核輻射探測(cè)器的硅、鍺和化合物半導(dǎo)體材料
5.7 半導(dǎo)體探測(cè)器的工作原理、制備工藝
5.8 半導(dǎo)體探測(cè)器的結(jié)構(gòu)和基本類型
第6章 硅探測(cè)器
6.1 硅核輻射探測(cè)器的種類
6.2 P—N結(jié)的形成
6.3 硅半導(dǎo)體探測(cè)器的各種特性參數(shù)
6.4 核輻射探測(cè)特性參數(shù)
第7章 硅鋰漂移探測(cè)器
7.1 鋰漂移探測(cè)器I0區(qū)(靈敏區(qū))的形成(補(bǔ)償區(qū)的制備)
7.2 鋰漂移探測(cè)器的分類
7.3 硅鋰漂移探測(cè)器的特性參數(shù)
7.4 半導(dǎo)體x射線探測(cè)器的選擇及其性能和特點(diǎn)
7.5 x射線能譜測(cè)量和數(shù)據(jù)圖表
7.6 硅鋰漂移x射線譜儀的應(yīng)用
第8章 特殊類型的半導(dǎo)體探測(cè)器
8.1 全耗盡探測(cè)器
8.2 位置靈敏探測(cè)器
8.3 硅漂移室SDC和電荷耦合探測(cè)器(CCD)
8.4 內(nèi)放大探測(cè)器(或雪崩倍增放大器)
8.5 P—I—N電流型探測(cè)器
8.6 夾心(夾層)型半導(dǎo)體中子探測(cè)器
8.7 勻質(zhì)體電導(dǎo)型——無(wú)結(jié)型器件
8.8 MOS—C探測(cè)器
8.9 高分辨率網(wǎng)柵型Au-si表面勢(shì)壘探測(cè)器
8.10 光電導(dǎo)探測(cè)器和光電二極管探測(cè)器
8.11 環(huán)形金硅面壘探測(cè)器
第9章 高純鍺探測(cè)器
9.1 HPGe探測(cè)器的結(jié)構(gòu)
9.2 HPGe探測(cè)器的電場(chǎng)和電容
9.3 HWGe探測(cè)器靈敏區(qū)和死層
9.4 HPGe探測(cè)器的能量分辨率
9.5 HPGe探測(cè)器的探測(cè)效率
9.6 峰面積、頻譜本底、譜峰極大值和峰康比
9.7 鍺探測(cè)器的時(shí)間特性
9.8 輻射損傷
9.9 鍺射線探測(cè)器的應(yīng)用
9.10 鍺y射線探測(cè)器測(cè)試方法
第10章 化合物半導(dǎo)體探測(cè)器
10.1 概述
10.2 砷化鎵(GaAs)核輻射探測(cè)器
10.3 碲化鎘(CdTe)核輻射探測(cè)器
10.4 碲鋅鎘核輻射探測(cè)器
10.5 碘化汞(Hgl2)核輻射探測(cè)器
第11章 低溫量熱和超導(dǎo)體核輻射探測(cè)器
11.1 低溫量熱核輻射探測(cè)器
11.2 低溫超導(dǎo)體核輻射探測(cè)器
11.3 超導(dǎo)體和低溫量熱核輻射探測(cè)器的應(yīng)用
11.4 展望
第12章 其他核輻射探測(cè)器
12.1 切倫科夫探測(cè)器
12.2 熱釋光探測(cè)器
12.3 徑跡探測(cè)器
12.4 康普頓二極管
12.5 自給能探測(cè)器
12.6 液體電離室
12.7 氣體正比閃爍探測(cè)器
12.8 穿越輻射探測(cè)器
第13章 探測(cè)器的本底和屏蔽
13.1 本底來(lái)源
13.2 降低本底的方法
第14章 核輻射探測(cè)器的應(yīng)用
14.1 概述
14.2 實(shí)驗(yàn)核物理中用于粒子鑒別的核輻射探測(cè)器
14.3 核輻射探測(cè)器在反應(yīng)堆(核電站)上的應(yīng)用
14.4 核輻射探測(cè)器在核能譜(核輻射能量)測(cè)量中的應(yīng)用
14.5 探測(cè)和測(cè)量脈沖輻射束的探測(cè)器
14.6 核輻射探測(cè)器在核輻射強(qiáng)度和輻射劑量測(cè)量中的應(yīng)用
14.7 核輻射探測(cè)器在核成像和其他研究領(lǐng)域中的應(yīng)用
14.8 探測(cè)器在核保障、核材料生產(chǎn)、加工處理中的監(jiān)測(cè)和核電站燃料燃耗的測(cè)量
14.9 x射線熒光分析用核輻射探測(cè)器和x射線熒光分析的應(yīng)用
14.10 核輻射探測(cè)器在宇宙空間天體物理領(lǐng)域的應(yīng)用
14.11 核輻射探測(cè)器在核醫(yī)學(xué)和臨床醫(yī)學(xué)中的應(yīng)用
附錄
參考文獻(xiàn)
核輻射探測(cè)器是核工業(yè)各環(huán)節(jié)的耳目。輻射(α,β,γ,中子,X射線等)在氣體、液體、固體中引起電離或激發(fā),轉(zhuǎn)換為電信號(hào),由電子儀器測(cè)量其強(qiáng)度或能量。不同性質(zhì)的核輻射,要用不同的探測(cè)器,因此,核輻射探測(cè)器是個(gè)大家族。
氣體電離探測(cè)器:這是發(fā)展最早、應(yīng)用最廣的探測(cè)器,具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、使用方便、價(jià)格便宜等優(yōu)點(diǎn),包括蓋革計(jì)數(shù)管、電暈計(jì)數(shù)管、正比計(jì)數(shù)管、電離室等。
閃爍探測(cè)器:一般由核輻射閃爍體(如碘化鈉)和光電倍增管組成。按化學(xué)成分劃分,可以分為有機(jī)閃爍體和無(wú)機(jī)閃爍體;按形態(tài)分,有固體、液體和氣體閃爍體;固體的又分為單晶、塑料、粉末和玻璃等閃爍體。光電倍增管是按電參數(shù)、幾何尺寸和用途而組合分類的。根據(jù)核測(cè)量的需要,可選擇閃爍體和光電倍增管組合成各式各樣的探測(cè)器,這類探測(cè)器有探測(cè)效率高的優(yōu)點(diǎn)。
半導(dǎo)體探測(cè)器:它是用半導(dǎo)體鍺、硅為主要原材料制成的探測(cè)元件具有能量分辨率高、上升時(shí)間快、線性響應(yīng)好、抗磁場(chǎng)干擾、結(jié)構(gòu)緊湊等優(yōu)點(diǎn)。
最佳回答:
γ射線是電子躍遷產(chǎn)生的,x是由帶電粒子的核相互作用產(chǎn)生的。原理不同
其他答案1:
不是的,他們是有區(qū)別的,沒(méi)有標(biāo)明的是一般不能檢測(cè)的,http://www.51laws.com />這里有很多關(guān)于核輻射的知識(shí) 有空可以去看看。
你有什么牌子的檢測(cè)儀,可以給我留言,我可以幫你看看。具體有什么功能
最佳回答:
謠言太多,終于有個(gè)可以辟謠的軟件了。
最佳回答:
不會(huì),那是放在鉛盒里的放射源的射線用于檢驗(yàn),沒(méi)有顆粒溢出
最佳回答:
金屬探測(cè)器是只能探測(cè)金屬!包含有有色金屬和黑色金屬,所以紙是探測(cè)不出來(lái)的!
最佳回答:
Radiological detectors
其他答案1:
RADIATION METER
東方嘉儀有輻射儀
其他答案1:
中國(guó)輻射探測(cè)器的研究工作是從50年代初期開(kāi)展起來(lái)的,先后研制成功原子核乳膠、蓋革計(jì)數(shù)管、碘化鈉(鉈)閃爍體等。到50年代末至60年代初,又先后開(kāi)展了其他各種閃爍體、光電倍增管和半導(dǎo)體探測(cè)器等的研究工作。中國(guó)在核武器研究中,已基本上使用本國(guó)研制的各種核輻射探測(cè)器。
核輻射探測(cè)器的發(fā)展趨勢(shì)主要是:
①研究同時(shí)能給出入射粒子位置、能量、時(shí)間等多種信息的組合型探測(cè)器和探測(cè)裝置。
②充分利用電子技術(shù)與計(jì)算機(jī)技術(shù)的新成就,提高對(duì)探測(cè)器所提供的信息進(jìn)行分析處理的精確度、速度和對(duì)信息的利用率。微電子技術(shù)正促進(jìn)微型化探測(cè)器的出現(xiàn)。
③尋求更理想的探測(cè)介質(zhì)和探測(cè)機(jī)制,研制超導(dǎo)探測(cè)器,等等。
最佳回答:
輻射探測(cè)器的主要性能指標(biāo)有探測(cè)效率、分辨率、線性響應(yīng)、粒子鑒別能力等。
(1)探測(cè)效率
探測(cè)器探測(cè)到的粒子數(shù)與在同一時(shí)間間隔內(nèi)入射到探測(cè)器中的該種粒子數(shù)的比值。它與探測(cè)器的靈敏體積、幾何形狀和對(duì)入射粒子的靈敏度有關(guān)。一般要求探測(cè)器具有高探測(cè)效率。但在一些特殊場(chǎng)合,如在極強(qiáng)輻射場(chǎng)下,則要求探測(cè)器具有較低的探測(cè)效率。
(2)分辨率
根據(jù)所分辨的內(nèi)容的不同,核輻射探測(cè)器的分辨率可以分為能量分辨率、空間分辨率、時(shí)間分辨率等。
能量分辨率:對(duì)于不同能量的同一種輻射粒子,探測(cè)器在一定程度上具有將其區(qū)分開(kāi)來(lái)的能力。探測(cè)器所能區(qū)分開(kāi)的最接近的兩個(gè)能量之差,即為探測(cè)器對(duì)此種粒子的能量分辨率;
空間分辨率(位置分辨率):對(duì)于不同位置入射的輻射粒子,探測(cè)器在一定程度上具有將其區(qū)分開(kāi)來(lái)的能力。探測(cè)器所能區(qū)分開(kāi)的最接近的兩個(gè)位置間的距離,即為探測(cè)器對(duì)此種粒子的空間分辨率;
時(shí)間分辨率:對(duì)于在不同時(shí)間到達(dá)探測(cè)器的輻射粒子,探測(cè)器在一定程度上具有將其區(qū)分開(kāi)來(lái)的能力。探測(cè)器所能區(qū)分開(kāi)的到達(dá)時(shí)刻最接近的兩個(gè)粒子的時(shí)間間隔,即為探測(cè)器對(duì)此種粒子的時(shí)間分辨率;
上述這些指標(biāo)一般用測(cè)出譜線的半高寬(FWHM)或十分之一高寬(FWTM)表示。
(3)線性響應(yīng)
探測(cè)器給出的信息在一定范圍內(nèi)與入射粒子的能量、強(qiáng)度或位置成線性關(guān)系的程度。可分別稱為能量線性響應(yīng)、強(qiáng)度線性響應(yīng)或位置線性響應(yīng)。
(4)粒子鑒別能力
一定類型的探測(cè)器只對(duì)某些種類的入射粒子靈敏,而對(duì)其他粒子不靈敏,或是隨入射粒子種類的不同而給出不同形式的信息,這就是探測(cè)器對(duì)粒子的鑒別能力。粒子鑒別能力較好的探測(cè)器有利于有選擇地探測(cè)所需要的粒子而排除其他核輻射的干擾。
(5)靈敏度
又稱響應(yīng)度,等于探測(cè)器輸出信號(hào)和入射信號(hào)之比。入射信號(hào)增大時(shí),如果輸出信號(hào)也隨之成正比地增加,則稱探測(cè)器是線性的;否則稱探測(cè)器是非線性的。
(6)探測(cè)率
等于探測(cè)器能夠探測(cè)到的最小輻射功率的倒數(shù)。任何探測(cè)器都有噪聲,比噪聲起伏平均值更小的信號(hào)實(shí)際上探測(cè)不出來(lái)。產(chǎn)生如噪聲那樣大的信號(hào)所需的輻射功率,稱為探測(cè)器能探測(cè)的最小輻射功率,或稱等效噪聲功率。
(7)其他性能指標(biāo)
一般還要求核輻射探測(cè)器具有抗輻照損傷的能力和對(duì)各種環(huán)境條件的適應(yīng)能力,如溫度、濕度、光照、耐腐蝕和機(jī)械振動(dòng)等?,F(xiàn)代的一些新型的核輻射探測(cè)器,還具有成像功能。這種新型探測(cè)器已用于中子照相、γ照相、X衍射和電子顯微鏡等方面。
最佳回答:
按照給出信息的方式,輻射探測(cè)器主要分為兩類:
一類是粒子入射到探測(cè)器后,經(jīng)過(guò)一定的處置才給出為人們感官所能接受的信息。例如,各種粒子徑跡探測(cè)器,一般經(jīng)過(guò)照相、顯影或輻射監(jiān)測(cè)儀化學(xué)腐蝕等過(guò)程。還有熱釋光探測(cè)器、光致發(fā)光探測(cè)器,則經(jīng)過(guò)熱或光激發(fā)才能給出與被照射量有關(guān)的光輸出。這一類探測(cè)器基本上不屬于核電子學(xué)的研究范圍。
另一類探測(cè)器接收到入射粒子后,立即給出相應(yīng)的電信號(hào),經(jīng)過(guò)電子線路放大、處理,就可以進(jìn)行記錄和分析。這一類稱為電探測(cè)器。電探測(cè)器是應(yīng)用最廣泛的輻射探測(cè)器。這一類探測(cè)器的問(wèn)世,導(dǎo)致了核電子學(xué)這一新的分支學(xué)科的出現(xiàn)和發(fā)展。
能給出電信號(hào)的輻射探測(cè)器已不下百余種。最常用的主要有氣體電離探測(cè)器、半導(dǎo)體探測(cè)器和閃爍探測(cè)器三大類。早在1908年,氣體電離探測(cè)器就已問(wèn)世。但直到1931年脈沖計(jì)數(shù)器出現(xiàn)后才解決了快速計(jì)數(shù)問(wèn)題。1947年,閃爍計(jì)數(shù)器的出現(xiàn),由于其密度遠(yuǎn)大于氣體而大大提高了對(duì)粒子的探測(cè)效率。最顯著的是碘化鈉(鉈)閃爍體,對(duì)γ射線還具有較高的能量分辨本領(lǐng)。60年代初,半導(dǎo)體探測(cè)器的研制成功,使能譜測(cè)量技術(shù)有了新的發(fā)展?,F(xiàn)代用于高能物理、核物理和其他科學(xué)技術(shù)領(lǐng)域的各種類型探測(cè)器件和裝置,都是基于上述三種類型探測(cè)器件經(jīng)過(guò)不斷改進(jìn)創(chuàng)新而發(fā)展起來(lái)的。